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SEMICON & OPTO半导体设备

半导体设备

X射线检查机

Nordson DAGE Ruby X 射线检测机

XD7600NT FP

1.    适用于免维护密封传送型DAGE-NT-500X射线管,最高160KV管电压及 10W标靶功率
2.    特征分辨率<0.5um (500nm), 可选配UCT(3D 检测), X-Plane ™和加配显 示器
3.    使用Nordson DAGE 200 万像素@ 25fps的CMOS 平板探测器可实现实时 模式影像增强功能且使用寿命较长
4.    内置(X 射线图像稳定器)防震动控制处理系统
5.    2500倍几何放大倍率,5200倍系统放大倍率, 共计15600倍数字变焦倍率
6.    保持放大倍率不变的情况下最大可达到70°倾斜角
7.    最大样品尺寸 :29” x 22.8” (736 x 580mm),47” x 26”的电路板尺寸也可供选择。

Nordson DAGE Diamond X 射线检测机

XD7600ND FP

1.    适用于免维护密封传送型DAGE NT-100X射线管,最高160KV管电压及10W标靶功率
2.    特征分辨率<0.1um并可选配uCT (3D 检测)& X-Plane ™功能
3.    使用Nordson DAGE 300 万像素@ 25fps的CMOS 平板探测器可实现实时模式影像增强功能且使用寿命较长
4.    内置(X 射线图像稳定器)防震动控制处理系统和24” 主显&加配TFT-LED 显示器
5.    2500倍几何放大倍率,7100倍系统放大倍率, 共计35000倍数字变焦倍率
6.    保持放大倍率不变的情况下最大可达到70°倾斜角
7.    最大样品尺寸 :29” x 22.8” (736 x 580mm)



Nordson DAGE JadeFP X 射线检测机

XD7600NT FP

1.    适用于DAGE VR950 开发,透射式X光管,最高160KV管电压及3W标靶功率
2.    特征分辨率<0.95 (950nm)
3.    使用Nordson DAGE 133 万像素@ 10fps的CMOS 平板探测器可实现实时模式影像增强功能且使用寿命较长
4.    内置(X 射线图像稳定器)防震动控制处理系统
5.    1400倍几何放大倍率,4200倍系统放大倍率
6.    保持放大倍率不变的情况下最大可达到65°倾斜角
7.    最大样品尺寸 :29” x 22.8” (736 x 580mm)