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SEMICON & OPTO半导体设备

半导体设备

X射线检查机

Nordson Dage Quadra Series X射线检测系统

Quadra 3/ Quadra 5/ Quadra 7

1.  更好的清晰度

高达670万像素的图像分辨率提供令人满意的亮度、对比度、空间分辨率、景深以及灰度,向您呈现更清晰的图像,并进一步简化您的分析。

2.  更快速的检测

高达30帧/秒的增强版实时检测技术可实现实时图像处理,快速提供最佳图片以最大化处理量。

3.  保持图像锐度

QuadraNT™ X射线管提供的高分辨率图像在高倍放大下仍能保持无与伦比的清晰度QuadraNT™为您提供锐利清晰的图像,特征分辨率为0.1微米时,目标功率达10瓦,或特征分辨率为0.3微米时,目标功率达20瓦。

4.  易于使用

机壳的设计符合人体工程学,可优化用户与系统交互的方式操作人员可迅速启动和运行可直观操作的Gensys™检测软件。


Nordson DAGE Explorer one X射线检测系统

1.  独特的集成技术

Explorer™ one 在图像链的每个步骤都具有专有技术,从生成和检测X射线到图像增强和测量。每个组件都有一个目的:为电子检测创建最高质量的图像。

2.  Quadra® X射线管技术

高质量的图像从X射线源开始。Explorer one使用QuadraNT®X射线管技术(也适用于我们的Quadra系列X 射线检测工具)在每个功率级提供市场领先的图像质量,而无需维护。

3.  专门设计用于电子器件的检测

能查看小至2μm的产品特性,这种高清细节的检测功能与只是 检测键合是否存在有着很大的区别。专为Explorer one 开发的AspireFP® one平板探测器经过优 化,能在电子样品中实现最高对比度。

4.  显示最精细的细节

超过30种先进的过滤器可以显示最清晰的图像并展示最精细的细节,让您更快地找到特征和缺陷。

5.  一直朝上

绝对不会看错方向。无论您从哪个侧面观察,Explorer one 独特的双轴倾斜观察功能均可使电路板朝上,样品肯定不会旋转。


Nordson DAGE Jade Plus X射线检测系统

1.  Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。

2.  内置尺寸测量工具、BGA空洞分析、凸点直径和圆度以及通孔填充,可快速查找并表征缺陷,帮助您达到IPC-A-610和IPC-7095合规标准。

3.  0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。

4.  诺信DAGE双倾斜角探测器的独特几何结构是检测缺陷的最快路径,而这些缺陷仅在特定视角下才能看见。

5.  第四代开放管技术非常适合以微米级解析度检测电子样品。

6.  Gensys软件专为电子检测而开发,将全面的测量工具和自动化整合到一个可以快速学会的直观点击式平台中,因此您可以更快地获得最大的生产力。

7.  QuadraGEN专为Quadra®系列高解析度X射线检测系统而设计,可提供高质量X射线图像所需的功率和稳定性。


Nordson MATRIX X系列平台

1.  高速AXI系统用于在线检测

2.  微焦斑X射线灯管(闭管/免维护)

3.  带线性马达驱动的多轴可编程运动系统

4.  数字CMOS平板探测器

5.  自动灰阶和几何校准

6.  条形码扫描枪可用于读取序列号和检测程序切换

7.  支持多种工业4.0标准的MES接口,实现全检测流程可追溯

8.  符合IPC-CFX标准


Nordson MATRIX X# Series在线式自动化X射线系统

X2#/ X2.5#/ X3#

1.  灵活的AXI系统,可用于在线或离线自动化检测

2.  微焦斑X射线灯管(闭管/免维护)

3.  多轴可编程伺服马达传动系统

4.  数字CMOS平板探测器

5.  自动灰阶几何及校验

6.  灵活配置:可提供在线Pass through模式或同侧进出板配置

7.  配置条码扫描枪后可进行条码读取及机种选择

8.  客制化的MES平台提供了完整的追踪系统接口